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Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是(shi)一個模(mo)塊化和可擴展平臺的光學(xue)測量設備(bei)，用于表(biao)征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

硬化涂層膜厚儀(yi)是一款快(kuai) 速、準確測量(liang)薄(bo)膜表(biao)(biao)征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表(biao)(biao)面，粗糙(cao)表(biao)(biao)面及許多(duo)其他(ta)表(biao)(biao)面。