產品分類
Product CategoryFR-Ultra是一種緊湊型設備(bei),專(zhuan)門用于(yu)快速、準確和無(wu)損測量(liang)半導(dao)體(ti)材料的厚/超厚層(ceng)及透明層(ceng)。
Filmetrics F3-sX半導體薄膜(mo)測量儀可以測試眾多半導體及電解層的厚度,可測大(da)厚度達3毫米(mi)。此(ci)類(lei)厚膜(mo),相較于較薄膜(mo)層表面較粗糙且不均(jun)
Filmetrics F32薄膜(mo)厚度測量(liang)儀 使用F32可以簡單快速地在線(xian)測量(liang)膜(mo)厚。從對膜(mo)的頂部和底(di)部反射光譜(pu)進行分析可得到實(shi)時厚度信(xin)息(xi)。
Filmetrics F60薄膜厚(hou)度(du)測(ce)量(liang)儀 電動R-Theta平臺(tai)自動移(yi)動到(dao)選(xuan)定的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)點(dian),并在幾秒(miao)鐘內(nei)提供厚(hou)度(du)測(ce)量(liang)。 選(xuan)擇數(shu)十(shi)種預定義的(de)(de)(de)極坐標,矩形或(huo)線性地圖(tu)模式中(zhong)的(de)(de)(de)一種,或(huo)創建自己(ji)的(de)(de)(de)地圖(tu)模式,不(bu)限制測(ce)量(liang)點(dian)的(de)(de)(de)數(shu)量(liang)。 典型的(de)(de)(de)49點(dian)圖(tu)形大約需(xu)要45秒(miao)。
Filmetrics F40薄(bo)膜厚度測量儀 產品能以(yi)一個電動R-Theta 平臺自動移動到選(xuan)定的測量點(dian)以(yi)每秒測繪兩個點(dian)的速(su)度快速(su)的測繪薄(bo)膜厚度, 樣品直(zhi)徑達450毫米
Filmetrics F54薄膜厚(hou)度測(ce)量儀能以一個(ge)(ge)電動R-Theta 平(ping)臺自動移動到選定的(de)(de)測(ce)量點以每秒測(ce)繪兩(liang)個(ge)(ge)點的(de)(de)速度快速的(de)(de)測(ce)繪薄膜厚(hou)度, 樣品直徑(jing)達450毫米