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  • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀

    QuickOCT-4D™ 將單點(dian)可見光光譜域光學相(xiang)干斷層(ceng)掃描 (SD-OCT) 傳感器與高速納米(mi)編碼(ma)的 X/Y/Z 運動控制(zhi)平(ping)臺相(xiang)結(jie)合,可以在(zai)高達(da) 66 kHz 的單次測量中(zhong)捕獲(huo)透明(ming)薄膜(mo)樣品中(zhong)每(mei)層(ceng)的平(ping)面。QuickOCT-4D™ 穿透深度(高達(da) 100μm)和(he)(he)軸向(xiang)分辨率 (5nm) 針對半導體、生命科(ke)學和(he)(he)制(zhi)藥行業(ye)的多(duo)層(ceng)透明(ming)薄膜(mo)、平(ping)面基板(ban)和(he)(he)功(gong)能層(ceng)的測量進行了優(you)化。

    更新時間:2024-03-19
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