Filmetrics薄膜厚度測量儀 F20

測(ce)量厚度(du)從1nm到10mm的先進膜厚測(ce)量系統

不論您(nin)(nin)是想要(yao)知(zhi)道(dao)薄膜厚(hou)度、光學常(chang)數(shu)，還是想要(yao)知(zhi)道(dao)材料的反射率(lv)和透過(guo)率(lv)，F20都能滿(man)足您(nin)(nin)的需(xu)要(yao)。僅需(xu)花費(fei)幾(ji)分鐘完成安裝，通過(guo)USB連(lian)接電(dian)腦(nao)，設備就(jiu)可以(yi)在(zai)數(shu)秒內得到測(ce)量(liang)結果。基于某模(mo)塊化設計的特點，F20適用于各種應用：

• 測量厚度、折射率(lv)、反射率(lv)和穿透率(lv)：

-     單層膜或多層膜疊加

-     單一膜層

-     液(ye)態膜或空氣層

• 不(bu)同條件下(xia)的測量，包(bao)括：

-     在平(ping)面或彎(wan)曲(qu)表(biao)面

-     光(guang)斑小(xiao)可(ke)達20微米

-     桌面式、XY坐標(biao)自動化膜(mo)厚測量，或在線配置(zhi)

所有的這(zhe)些功(gong)能(neng)都(dou)伴隨著直觀(guan)的軟件界面(mian)以及我們(men)即(ji)時(shi)的電話和(he)互聯網支持（24小時(shi)/每周(zhou)5工作(zuo)日）。這(zhe)就是(shi)Filmetrics的優(you)勢！歡(huan)迎您試一試！

膜層范例

基本(ben)上所(suo)有光(guang)滑(hua)的(de)、半透明的(de)或低(di)吸收系(xi)數的(de)薄膜都可(ke)以測量。

這包括幾乎所(suo)有(you)的電(dian)介質(zhi)與半導體(ti)材(cai)料，例如：

                   

  厚度測量范圍

測量原理為(wei)何？

軟件功(gong)能(neng)以使(shi)用者為導向

   其他的選用(yong)配(pei)件

選擇(ze)Filmetrics的優勢

• 24小(xiao)時電(dian)話，郵(you)件和在線支持

• 所(suo)有系統皆使(shi)用直觀(guan)的(de)標準(zhun)分析軟件

附加(jia)特性

• 嵌(qian)入式在線診(zhen)斷方式

• 免費離線分析軟件

• 精細的歷史數據功能(neng)，幫助用戶有(you)效地存(cun)儲，重現與繪制測試結(jie)果

Filmetrics薄膜厚度測量儀應用

半導體膜層                                  液(ye)晶(jing)顯示器

• 光(guang)刻(ke)膠                                     • OLED

• 加(jia)工膜層                                   • 玻璃(li)厚度

• 介電層(ceng)                                     • ITO和TCOs

光學鍍層                                      生物醫學

• 硬涂層(ceng)                                      • 聚對(dui)二(er)甲(jia)苯

• 抗反射層(ceng)                                    • 醫療器械