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  • CI8化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置

    LODAS™ – CI8是列真株式會社推(tui)出的一款化(hua)合物(wu)半導體(ti)SiC、GaN晶圓檢查裝置。

    更新時間:2024-03-19
    型號:CI8
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:1094
  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統

    UltraINSP晶(jing)圓(yuan)(yuan)表面缺(que)陷檢(jian)(jian)測(ce)系統是(shi)表面缺(que)陷檢(jian)(jian)測(ce)的蕞完善的國(guo)產化(hua)替代(dai)產品,系統包括四個模塊(kuai)可(ke)以檢(jian)(jian)測(ce)所有晶(jing)圓(yuan)(yuan)表面并同步采(cai)集數據:晶(jing)圓(yuan)(yuan)正面、背(bei)面、邊(bian)緣缺(que)陷檢(jian)(jian)測(ce)模塊(kuai);輪廓、量測(ce)和檢(jian)(jian)查模塊(kuai);

    更新時間:2024-03-19
    型號:
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:376
  • iFocus晶圓檢測系統

    iFocus是一款(kuan)用(yong)(yong)于晶圓外觀缺(que)(que)陷(xian)檢測(ce)(ce)設備,利用(yong)(yong)STI的2D/3D視覺檢測(ce)(ce)系統,采(cai)用(yong)(yong)雙2D Camera同時采(cai)集(ji)亮區和暗(an)區照片分(fen)析特征缺(que)(que)陷(xian);True 3D技術,可以精確(que)量測(ce)(ce)Bumping高(gao)度,Bumping共面性等特征。可適(shi)用(yong)(yong)于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等產(chan)品外觀檢測(ce)(ce)。

    更新時間:2024-03-19
    型號:
    廠商性質:代理(li)商
    瀏覽量:497
  • LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置

    LODAS™ – LI系列是列真株式(shi)會社推(tui)出的一(yi)款(kuan)FPD Photomask缺(que)陷(xian)檢查裝置。

    更新時間:2024-03-19
    型號:LODAS™ – LI系列
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:698
  • LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI12是列真株式(shi)會社推(tui)出的一款GlassWafe缺陷檢查(cha)裝置。

    更新時間:2024-03-19
    型號:LODAS™ – BI12
    廠商性質:代(dai)理商
    瀏覽量:601
  • LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI8是列真株式(shi)會社(she)推出(chu)的一款Photomask Blanks缺(que)陷(xian)檢查裝(zhuang)置。

    更新時間:2024-03-19
    型號:LODAS™ – BI8
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:671
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