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專為測(ce)量旋(xuan)轉(zhuan)對稱樣(yang)品的(de)表面(mian)形貌(mao)和透(tou)明薄膜的(de)厚度而設計(ji),如金剛(gang)石車(che)削光學表面(mian)和模(mo)塑或拋光的(de)非球面(mian)透(tou)鏡
適用于光學、工業和半導體市(shi)場的(de)高速、中精度、經(jing)濟實惠的(de)表面輪廓儀,納(na)米分辨率(lv)彩色共聚焦傳(chuan)(chuan)感器(可配(pei)制點(dian)和線傳(chuan)(chuan)感器),為在線過(guo)程測量和控制而設計,結構緊湊,易(yi)于上下片和操作,可配(pei)制成獨立(li)系統(X/Y/Z) 和附加(jia)升級至LAS (C/R/Z),多(duo)種樣品(pin)處理(li)能力
QuickOCT-4D™ 將(jiang)單(dan)點可見光(guang)光(guang)譜域光(guang)學相干斷層(ceng)掃描 (SD-OCT) 傳感器與高(gao)速(su)納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結合,可以在高(gao)達 66 kHz 的單(dan)次測(ce)量(liang)中(zhong)捕獲透明薄(bo)膜(mo)(mo)樣品中(zhong)每層(ceng)的平面(mian)。QuickOCT-4D™ 穿透深(shen)度(高(gao)達 100μm)和(he)軸(zhou)向分辨率 (5nm) 針對(dui)半導體(ti)、生命科(ke)學和(he)制藥行業的多層(ceng)透明薄(bo)膜(mo)(mo)、平面(mian)基板和(he)功能層(ceng)的測(ce)量(liang)進行了優化。