相關文章
Related ArticlesFSM413紅外激光測(ce)厚儀主(zhu)要產品(pin)包括:光學(xue)測(ce)量(liang)設備:三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應力測(ce)量(liang)設備、 紅外干涉厚度(du)測(ce)量(liang)設備、電(dian)學(xue)測(ce)量(liang)設備:高(gao)溫四探(tan)針測(ce)量(liang)設備、非接觸(chu)式片電(dian)阻及漏電(dian)流測(ce)量(liang)設備、金屬污染分析、等效氧化層厚度(du)分析(EOT)
FR-Ultra 是一款專(zhuan)用于精確測量半導體以(yi)及介電(dian)材料超厚層的專(zhuan)用設備。 藉由先進的光學(xue)器件,FR-Ultra 可以(yi)測量光滑或粗糙的薄膜以(yi)及較厚的基(ji)材。